A new analytical and statistical-oriented approach for the two-dimensional threshold analysis of short-channel MOSFETs / Conti, Massimo; Turchetti, Claudio; G., Masetti. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 32:9(1989), pp. 739-747. [10.1016/0038-1101(89)90007-5]

A new analytical and statistical-oriented approach for the two-dimensional threshold analysis of short-channel MOSFETs

CONTI, MASSIMO;TURCHETTI, Claudio;
1989-01-01

1989
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