Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime / Conti, Massimo; G. F., Dalla Betta; Orcioni, Simone; G., Soncini; Turchetti, Claudio; N., Zorzi. - STAMPA. - (1997), pp. 173-178. (Intervento presentato al convegno 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures tenutosi a Monterey, CA , USA nel 17-20 Mar 1997) [10.1109/ICMTS.1997.589380].
Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime
CONTI, MASSIMO;ORCIONI, Simone;TURCHETTI, Claudio;
1997-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
