Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime / Conti, M., G. F., D.B., Orcioni, S., G., S., Turchetti, C., N., Z.. - STAMPA. - (1997), pp. 173-178. (1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Monterey, CA , USA 17-20 Mar 1997) [10.1109/ICMTS.1997.589380].
Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime
CONTI, MASSIMO;ORCIONI, Simone;TURCHETTI, Claudio;
1997-01-01
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