CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishAn approach is introduced to improve the performance of a class of scanning probe microscopy techniques; in principle all techniques exploiting some frequency dependent characteristic could potentially benefit from the proposed approach. Application of the approach in a new near-field microwave microscope setup is reported.
| Titolo: | Algorithm for reduction of noise in ultramicroscopy and application to near-field microwave microscopy |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2010 |
| Rivista: | |
| Abstract: | An approach is introduced to improve the performance of a class of scanning probe microscopy techniques; in principle all techniques exploiting some frequency dependent characteristic could potentially benefit from the proposed approach. Application of the approach in a new near-field microwave microscope setup is reported. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11566/51071 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11566/51071
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