A new method based on hard X-ray diffraction for the investigation of archaeological artifacts, in Measurement Science and Technology / P., Bastie; B., Hamelin; Fiori, Fabrizio; A., Giuliani; G., Giunta; F., Rustichelli; J., Gysens. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 17:(2006), p. L1.
A new method based on hard X-ray diffraction for the investigation of archaeological artifacts, in Measurement Science and Technology
FIORI, FABRIZIO;
2006-01-01
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