Comments on “On Deembedding of Port Discontinuities in Full-Wave CAD Models of Multiport Circuits” and related comments / Farina, Marco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES. - ISSN 0018-9480. - (2005).

Comments on “On Deembedding of Port Discontinuities in Full-Wave CAD Models of Multiport Circuits” and related comments.

FARINA, Marco
2005-01-01

2005
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