Characterisation of ferroelectric thin films by X-ray diffraction and electron microscopy / A., D.B., A., D.C., Majni, G., Mengucci, P.. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS. - ISSN 1466-6049. - 2:(2000), pp. 249-254.
Characterisation of ferroelectric thin films by X-ray diffraction and electron microscopy
MAJNI, GIUSEPPE;MENGUCCI, Paolo
2000-01-01
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