Machine learning to probe modal interaction in dynamic atomic force microscopy / Belardinelli, P.; Chandrashekar, A.; Wiebe, R.; Alijani, F.; Lenci, S.. - In: MECHANICAL SYSTEMS AND SIGNAL PROCESSING. - ISSN 0888-3270. - STAMPA. - 179:(2022), p. 109312. [10.1016/j.ymssp.2022.109312]

Machine learning to probe modal interaction in dynamic atomic force microscopy

Belardinelli P.
;
Lenci S.
2022-01-01

2022
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11566/305780
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