Improvement of defect size and morphological estimation in shearography inspection by wavelet transform / Allevi, G.; Pandarese, G.; Revel, G. M.. - In: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. - ISSN 0034-6748. - 90:10(2019), p. 105111. [10.1063/1.5093146]

Improvement of defect size and morphological estimation in shearography inspection by wavelet transform

Pandarese G.;Revel G. M.
2019-01-01

2019
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