Robustness of attractors in tapping mode atomic force microscopy / Chandrashekar, A.; Belardinelli, P.; Staufer, U.; Alijani, F.. - In: NONLINEAR DYNAMICS. - ISSN 0924-090X. - (2019). [10.1007/s11071-019-05037-y]

Robustness of attractors in tapping mode atomic force microscopy

Belardinelli P.;
2019-01-01

2019
Atomic force microscopy; Basin erosion; Basins of attraction; Bifurcation chart; Dynamical integrity; In-contact attractor; Integrity profiles; Robustness; Tapping mode
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