X-ray diffraction structural analysis of LB films by using a pattern recognition approach / Maccioni, E.; Mariani, Paolo; Rustichelli, Franco; Delacroix, H.; Troitsky, V.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 265:(1995), pp. 74-74.
X-ray diffraction structural analysis of LB films by using a pattern recognition approach
MARIANI, Paolo;RUSTICHELLI, Franco;
1995-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.