X-ray diffraction structural analysis of LB films by using a pattern recognition approach / Maccioni, E.; Mariani, Paolo; Rustichelli, Franco; Delacroix, H.; Troitsky, V.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 265:(1995), pp. 74-74.

X-ray diffraction structural analysis of LB films by using a pattern recognition approach

MARIANI, Paolo;RUSTICHELLI, Franco;
1995-01-01

1995
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