Characterization of the creep exposed CMSX2 single crystal by neutron diffraction topography and neutron diffractometry Czech. J. Phys / Strunz, P.; Lukas, P.; Mikula, P.; Saroun, J.; Albertini, Gianni; Rustichelli, F.; Cicognani, G.. - In: CZECHOSLOVAK JOURNAL OF PHYSICS. - ISSN 0011-4626. - 44 VOL 2:(1994), pp. 687-693.
Characterization of the creep exposed CMSX2 single crystal by neutron diffraction topography and neutron diffractometry Czech. J. Phys
ALBERTINI, GIANNI;
1994-01-01
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