High angular resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective x-ray optics / Siewert, F; Buchheim, J.; Höft, T.; Fiedler, S.; Bourenkov, G.; Cianci, Michele; Signorato, R.. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 23:7(2012), p. 074015. [10.1088/0957-0233/23/7/074015]

High angular resolution slope measuring deflectometry for the characterization of ultra-precise reflective x-ray optics

CIANCI, MICHELE;
2012-01-01

2012
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