HWANG, JAMES C M
HWANG, JAMES C M
Dipartimento Ingegneria dell'Informazione
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Calibration of Scanning Microwave Microscopy via Substrate-Referenced Machine Learning | 1-gen-2026 | Zhang, Y.; Wang, X.; Farina, M.; Hwang, J. C. M.; Zhu, Y.; Mao, N.; Wu, P.; Kong, J. |