High Resolution Imaging of Nanoscale Structures by Near-Field Scanning Microwave Microscopy / Monti, T., DI DONATO, A., Farina, M.. - (2012). (IEEE Radio & Wireless Week 2012 Santa Clara (CA) 15-18 gennaio 2012).
High Resolution Imaging of Nanoscale Structures by Near-Field Scanning Microwave Microscopy
MONTI, TAMARA;DI DONATO, Andrea;FARINA, Marco
2012-01-01
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