Defect Identification by Eddy Current Inspection Data Classification Through Probabilistic Neural Networks with Elliptical Kernels / A., Bianchi; P., Burrascano; E., Cardelli; Fiori, Simone; B., Tellini. - 1:(1999), pp. 180-181. (Intervento presentato al convegno COMPUMAG'99 (12th Conference on the Computation of Electromagnetic Fields) tenutosi a Sapporo (Japan)).
Defect Identification by Eddy Current Inspection Data Classification Through Probabilistic Neural Networks with Elliptical Kernels
FIORI, Simone;
1999-01-01
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