High Resolution X-Ray Tomography for non-invasive, multi-length scale characterization of Advanced Materials in Nanotechnology / Giuliani, Alessandra; Komlev, V.; Rustichelli, Franco. - (2010), pp. 70-83.

High Resolution X-Ray Tomography for non-invasive, multi-length scale characterization of Advanced Materials in Nanotechnology.

GIULIANI, ALESSANDRA;RUSTICHELLI, Franco
2010-01-01

2010
9788862090605
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11566/56654
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact