High Resolution X-Ray Tomography for non-invasive, multi-length scale characterization of Advanced Materials in Nanotechnology / Giuliani, Alessandra; Komlev, V.; Rustichelli, Franco. - (2010), pp. 70-83.
High Resolution X-Ray Tomography for non-invasive, multi-length scale characterization of Advanced Materials in Nanotechnology.
GIULIANI, ALESSANDRA;RUSTICHELLI, Franco
2010-01-01
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