Intelligent on-line quality control using discrete wavelet analysis features and likehood classification / Goumas, S., Zervakis, M., Pouliezos, A., Stavrakakis, G.S., Tomasini, E.P., Paone, N., Scalise, L.. - SPIE - 4072:(2000), pp. 500-513.

Intelligent on-line quality control using discrete wavelet analysis features and likehood classification

TOMASINI, Enrico Primo;PAONE, Nicola;SCALISE, Lorenzo
2000-01-01

2000
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