Parametric studies of carbon nitride thin films deposited by reactive pulsed laser ablation / Acquaviva, S; D'Anna, E; DE GIORGI, M. L.; Leggieri, G; Luches, A; Martino, M; Perrone, A; Zocco, A; Barucca, Gianni; Mengucci, Paolo. - 4070:(2000), pp. 220-225. (Intervento presentato al convegno SPIE - The International Society for Optical Engineering).
Parametric studies of carbon nitride thin films deposited by reactive pulsed laser ablation.
BARUCCA, Gianni;MENGUCCI, Paolo
2000-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.