Microstructural characterization of SiC layers obtained by microwave-CVD / Barucca, G., P., M., S., F., G., C., F., G., C. F., P.. - (2001), pp. 305-306. (5th Multinational Congress on Electron Microscopy Lecce (Italy) SEP 20-25, 2001).
Microstructural characterization of SiC layers obtained by microwave-CVD.
BARUCCA, Gianni;
2001-01-01
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