Microstructural characterization of SiC layers obtained by microwave-CVD / Barucca, Gianni; P., Mandracci; S., Ferrero; G., Cicero; F., Giorgis; C. F., Pirri. - (2001), pp. 305-306. (Intervento presentato al convegno 5th Multinational Congress on Electron Microscopy tenutosi a Lecce (Italy) nel SEP 20-25, 2001).

Microstructural characterization of SiC layers obtained by microwave-CVD.

BARUCCA, Gianni;
2001-01-01

2001
1-58949-003-7
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