Ed. D.Vaisburd, Tomsk Polytechnic University

Residual Stress Measurements at the DIANE Diffractometer / Rustichelli, F.; Ceretti, M.; Fiori, Fabrizio; Lodini, A.; Menelle, A.. - (2000), pp. 243-243.

Residual Stress Measurements at the DIANE Diffractometer

FIORI, FABRIZIO;
2000-01-01

Abstract

Ed. D.Vaisburd, Tomsk Polytechnic University
2000
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