A modular approach to the statistical characterization of ESD tests / Chiaraluce, F., DE LEO, R., Gambi, E.. - (1997), pp. 267-270. (International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications Torino, Italy 15-18 September 1997).
A modular approach to the statistical characterization of ESD tests
CHIARALUCE, FRANCO;DE LEO, Roberto;GAMBI, Ennio
1997-01-01
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