A new methodology to built-up and compare accurate empirical models for VLSI MOSFET's / C., Turchetti; G., Giaccaglini; G., Masetti; Conti, Massimo. - STAMPA. - (1988), pp. 23-34. (Intervento presentato al convegno PModeling & Simulation tenutosi a Rio de Janeiro nel 13-15 oct. 1988).
A new methodology to built-up and compare accurate empirical models for VLSI MOSFET's
CONTI, MASSIMO
1988-01-01
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