The articles in this special section focus on measurement techniques for radio frequency nanoelectronic devices
Measurement Techniques for RF nanoelectronics / Wallis, T. M.; Pierantoni, Luca. - In: IEEE MICROWAVE MAGAZINE. - ISSN 1527-3342. - ELETTRONICO. - Vol.15, Issue 1:(2014), pp. 26-28. [10.1109/MMM.2013.2292758]
Measurement Techniques for RF nanoelectronics
PIERANTONI, Luca
2014-01-01
Abstract
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