Topography and Refractometry through Optical Fiber Extrinsic Micro-Cavity Scanning Microscopy / DI DONATO, Andrea; Monti, Tamara; Mencarelli, Davide; Venanzoni, Giuseppe; Morini, Antonio; Farina, Marco. - STAMPA. - (2013). (Intervento presentato al convegno 15° Convegno Nazionale delle Tecnologie Fotoniche tenutosi a Milano nel 21-23 maggio 2013).

Topography and Refractometry through Optical Fiber Extrinsic Micro-Cavity Scanning Microscopy

DI DONATO, Andrea;MONTI, TAMARA;MENCARELLI, Davide;VENANZONI, Giuseppe;MORINI, ANTONIO;FARINA, Marco
2013-01-01

2013
9788887237160
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